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能根据XRD衍射后的薄膜特征峰强度测量薄膜厚度吗? [复制链接]

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能根据XRD衍射后的薄膜特征峰强度测量薄膜厚度吗?谢谢各位回答。

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    镀层厚度的X射线衍射法测量.pdf

    摘要:用基体x射线衍射法测量了化学镀Ni.P合金的镀层厚度,并进行了误差分析。结果表明.基体 x射线衍射法是一种精确度较高的镀层厚度无损测量法,在其适用的范围之内,能客观准确地测量出镀层厚 度,误差小于金相法测量误差;基体x射线衍射法的测量结果。几乎不受基体表面镀层结晶状态的影响。 可以用来测量晶态或非晶态镀层厚度。
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      3#

      谢谢

      非常感谢您的指导!
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      非常感谢楼主。。。
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      支持楼主,谢谢分享!
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      支持楼主,谢谢分享!
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      支持楼主,谢谢分享!
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      学习了  XRD还能测试薄膜厚度  受教了
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      很多企业采用这种方法测量薄膜的厚度,但是精度需要探讨。呵呵呵呵
      QQ:67330418
      Email:wolf.liuf@163.com
      求真务实!
      不以求备取人,不以己长格物!
      黜虚名以求实效,存实绩而图奋进。
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      很好,顶一下了
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      谢谢,学习一下
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      积分怎么这么快就没了
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      感謝分享!!小弟學習了!
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      谢谢,学习学习了
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      正好适用呢,谢谢了
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      二楼提供的资料很好  谢谢
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      谢谢,学习学习了
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